Предложен вариант метода рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии. Для очистки поверхности исследуемого образца регистрацию спектра ведут при непрерывной продувке рабочей камеры спектрометра с установленным в нем образцом особо чистым инертным газом при 10–10 Па. Показано, что предложенный подход позволяет получить репрезентативные спектры поверхности образцов, свободной от адсорбированных частиц, загрязнений и примесей, без использования техники сверхвысокого вакуума и без разрушения поверхности образца; обеспечивает сравнительно быструю подготовку прибора к работе, а также возможность исследования образцов, разрушающихся в условиях сверхвысокого вакуума (кристаллогидраты, органические соединения) и при воздействии грубых методов очистки поверхности, таких как механическая чистка, значительный нагрев или ионное травление.
Предложен вариант метода рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии. Для очистки поверхности исследуемого образца регистрацию спектра ведут при непрерывной продувке рабочей камеры спектрометра с установленным в нем образцом особо чистым инертным газом при 10–10 Па. Показано, что предложенный подход позволяет получить репрезентативные спектры поверхности образцов, свободной от адсорбированных частиц, загрязнений и примесей, без использования техники сверхвысокого вакуума и без разрушения поверхности образца; обеспечивает сравнительно быструю подготовку прибора к работе, а также возможность исследования образцов, разрушающихся в условиях сверхвысокого вакуума (кристаллогидраты, органические соединения) и при воздействии грубых методов очистки поверхности, таких как механическая чистка, значительный нагрев или ионное травление.
Индексирование
Scopus
Crossref
Higher Attestation Commission
At the Ministry of Education and Science of the Russian Federation