Предложен вариант метода рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии. Для очистки поверхности исследуемого образца регистрацию спектра ведут при непрерывной продувке рабочей камеры спектрометра с установленным в нем образцом особо чистым инертным газом при 10–10 Па. Показано, что предложенный подход позволяет получить репрезентативные спектры поверхности образцов, свободной от адсорбированных частиц, загрязнений и примесей, без использования техники сверхвысокого вакуума и без разрушения поверхности образца; обеспечивает сравнительно быструю подготовку прибора к работе, а также возможность исследования образцов, разрушающихся в условиях сверхвысокого вакуума (кристаллогидраты, органические соединения) и при воздействии грубых методов очистки поверхности, таких как механическая чистка, значительный нагрев или ионное травление.
Индексирование
Scopus
Crossref
Высшая аттестационная комиссия
При Министерстве образования и науки Российской Федерации